Ultra-nagy tisztaságú szén nanocsövek

Ultra-nagy tisztaságú szén nanocsövek

Egy-falú szén nanocsövek (SWCNT) és több-falú szén nanocsövek (MWCNT). A nyilvánvaló közös vonások ellenére jelentős különbségek vannak az egy-falú szén nanocsövek és a több-falú szén nanocsövek fizikai tulajdonságai között a szerkezeti különbségek miatt.
A szálláslekérdezés elküldése

1. Alapvető termékinformációk

Termék neve:Ultra-Nagy tisztaságú szén nanocsövek (UHP-CNT)
Termékkategória:Nagy-tisztasági fokozatú több-falú (MWCNT) / egy-falú (SWCNT) CNT-k
Tisztasági fokozat: Industrial Ultra-High Purity (>99,9%-os szén-dioxid tisztaság)
Megjelenés:Mélyfeketétől fémes fényű por, kiváló folyóképesség
Szerkezeti integritás:Magas grafitos rács tökéletesség minimális szerkezeti hibákkal
Különleges tulajdonság:Katalizátormaradék-mentes, szabályozható felületi funkciós csoportokkal

2. Alapvető teljesítményparaméterek

Szén tisztaság:99,9 tömeg% vagy annál nagyobb (kombinált magas hőmérsékletű tisztítással és savas kezeléssel)

Fémszennyeződés tartalom: <100 ppm (Fe, Co, Ni catalyst residues)

Hamutartalom: <0.05 wt% (measured at 950°C in air)

Grafitizálási végzettség:ID/IG arány<0.05 (Raman spectroscopy)

Specifikus felszíni terület (SSA):250-400 m²/g (MWCNT); 600-1000 m²/g (SWCNT)

Térfogatsűrűség:0,08-0,15 g/cm³ (a csapolási sűrűség testreszabható)

Egységes átmérő:Átmérő elosztási CV<15%

3. Elektromos tulajdonságok

Térfogatellenállás:

Belső:10⁻⁴ - 10⁻³ Ω·cm (fém SWCNT-k)

Makroszkópos por:0.05 - 0.5 Ω·cm (tömörítve, érinti az érintkezési ellenállást)

Összetett teljesítményben:

0,5 tömeg%-os terhelésnél: 10² - 10⁴ Ω·cm (polimer mátrix)

2,0 tömeg%-os terhelésnél: 10⁻¹ - 10¹ Ω·cm (perkoláció elérve)

Főbb előny:Az ultra-nagy tisztaságú minimális hordozószóródást biztosít a szennyeződésektől, így az elméleti határokhoz közeli vezetőképességet tesz lehetővé.

Felületi ellenállás:

Thin Films/Coatings: 50 - 500 Ω/sq (at >85% látható fényáteresztés)

Vezető paszták: 10² - 10³ Ω/sq (nyomtatott elektronikához)

Teljesítmény jellemző:A csökkentett felületi állapot sűrűsége és a megnövelt tisztaságból adódó kisebb érintkezési ellenállás jelentősen javítja a felület vezetőképességét.

4. Diszperziós jellemzők

Diszperziós kihívások és megoldások:

Előkezelési technológiák-:

Plazma felszíni aktiválás

Szuperkritikus CO₂-segített diszperzió

Alacsony-hőmérsékletű golyós marás az agglomeráció-mentesítéséhez

A diszperziós rendszer kompatibilitása:

Vizes rendszerek: Stable dispersion >30 nap felületaktív anyagok nélkül

Szerves rendszerek:Diszperziós koncentráció 5 mg/ml-ig NMP-ben, DMF-ben, THF-ben

Polimer olvadékok:40%-kal javult a diszperziós hatékonyság a csavaros extrudálás révén

Funkcionalizálási lehetőségek:

Enyhe oxidációs kezelés (0,5-2,0 at%-nál szabályozható karboxiltartalom)

Aminálás módosítása (-NH₂ sűrűség: 1-3 csoport/nm²)

Szilán kapcsolószer ojtása (javítja az interfész kötést szervetlen mátrixokkal)

5. Fizikai tulajdonságok

Szerkezeti tulajdonságok:

Grafitikus rétegköz: 0,34 ± 0,01 nm (nagy kristályosság)

Average wall number: 3-8 layers (MWCNTs); single-wall integrity >95% (SWCNT-k)

Hiba sűrűsége:<10¹⁰ cm⁻² (TEM statistics)

Termikus tulajdonságok:

Hővezetőképesség: Axiális 3000-3500 W/(m·K); Radiális 15-25 W/(m·K)

Hőtágulási együttható (CTE): Axiális -1,5×10⁻⁶ K⁻¹; Radiális 15×10⁻⁶ K⁻¹

Oxidation onset temperature: 650-700°C in air; stable >1800 fok közömbös atmoszférában

Mechanikai tulajdonságok:

Tensile strength: >100 GPa (SWCNTs); >50 GPa (MWCNT)

Rugalmassági modulus: 1,0-1,2 TPa

Fatigue resistance: >10⁹ hajlítási ciklus (5 μm görbületi sugárral)

6. Alkalmazások és célipar

Élvonalbeli{0}}elektronika:

A kvantumeszközök összekapcsolódnak

Nagy{0}}frekvenciás tranzisztor csatorna anyaga (fT > 100 GHz)

Additív fázis szupravezető kompozitokhoz

Precíziós műszergyártás:

Atomerőmikroszkópos (AFM) szondavégek

Pásztázó alagútmikroszkópos (STM) elektródák

Nagy pontosságú{0}}érzékelős nyúlásmérők

Frontier energetikai alkalmazások:

3D-s vezetőképes hálózat felépítése szilárdtest-akkumulátorokhoz

Vezetőképes bevonatok üzemanyagcellás bipoláris lemezekhez

Interfész anyagok termoelektromos átalakító eszközökhöz

Orvosbiológiai eszközök:

Beültethető orvosi elektródák

Neurális jelrögzítő mikrotömbök

Erősen biokompatibilis szövetmérnöki állványok

Repülési kritikus alkatrészek:

Műholdvezető hőszabályozó bevonatok

Űrjárművek elektromágneses árnyékoló kompozitjai

Megerősítési fázis könnyű,{0}}nagy szilárdságú szerkezeti alkatrészekhez

7. Elvek és tisztítási technológiai útvonalak

Több-lépcsős tisztítási folyamat:

Gőz{0}}fázisú tisztítási szakasz:

Gőz-segített katalitikus oxidáció (az amorf szén szelektív eltávolítása)

Magas-hőmérsékletű klórkezelés (illékony fém-kloridokat képez)

Hidrogén redukció a hibák gyógyulásához

Folyékony{0}}fázisú tisztítási szakasz:

Sűrűséggradiens centrifugálás (sűrűségkülönbségek alapján)

Elektroforetikus elválasztás (felületi töltéskülönbségek alapján)

Méretkizárásos kromatográfia (hidrodinamikai sugár alapján)

Fizikai elválasztási technológiák:

Ultracentrifugációs térelválasztás (200 000 g, kiralitásos elválasztás)

Dielektroforetikus elválasztás (különbségek a váltakozó áramú mező dielektromos válaszában)

Field{0}}flow frakcionálás (az áramlás és a merőleges mezők szinergiája)

A tisztaság jellemzésének technikái:

Hőmérsékletre{0}}programozott oxidáció (TPO) az amorf szén mennyiségi meghatározásához

Induktív csatolású plazma tömegspektrometria (ICP{0}}MS) fémnyomok detektálásához

Elektronenergia veszteség spektroszkópia (EELS) a helyi kémiai összetétel elemzéséhez

8. Minőségellenőrző rendszer

Nyersanyag nyomon követhetőség ellenőrzése:

Fémkatalizátor prekurzor tisztasága: 99,999% (5N minőségű)

Szénforrás gáz tisztasága: 99,9999% (6N fokozat)

A reaktor anyaga: nagy-tisztaságú kvarc vagy zafír bélés

Folyamat{0}}figyelés:

Online lézer-indukált lebontási spektroszkópia (LIBS) a fémtartalom valós{1}}figyeléséhez

In-situ Raman-spektroszkópia a grafitizációs fok monitorozására

Tömegspektrometria a kipufogógáz-összetétel valós idejű -észleléséhez

Késztermék tesztelési protokoll:

Tétel konzisztencia vizsgálata:Statisztikai folyamatvezérlés tételenként 10 véletlenszerű mintán

A végső tisztaság ellenőrzése:Neutronaktivációs elemzés (NAA) a ppb{0}}szintű szennyeződések kimutatásához

Strukturális integritás értékelése:Nagy{0}}felbontású TEM mély tanulási képelemzéssel kombinálva

Tanúsítványok és szabványoknak való megfelelés:

Megfelel a SEMI (Semiconductor Equipment and Materials Institute) szabványoknak

Megfelel az ASTM E2857-11 nanoanyagok jellemzésére vonatkozó útmutatójának

Az ISO/TS 80004-13 nanotechnológiai terminológia szerint tanúsított

9. Reprezentatív tesztadatok

Elektromos teljesítmény ellenőrzése:

Mező{0}}hatás mobilitás: SWCNT vékony film, 150 000 cm²/(V·s) (szobahőmérséklet)

Current-carrying capacity: Single MWCNT, >2×10⁹ A/cm² (vákuum környezet)

Érintkező ellenállás: Au elektróda-CNT érintkező,<1 kΩ·μm

Hőteljesítmény mérések:

Hővezetőképesség mérése: Függesztett mikro{0}}híd módszer, egyetlen SWCNT, 3500±150 W/(m·K)

Hőstabilitás: TGA-DSC kombinált, 0,5%-os súlycsökkenési hőmérséklet: 698 fok (levegő)

Kompozit anyagok teljesítménye:

Epoxigyanta / 0,3 tömeg% UHP-CNT:

Térfogat-ellenállás: 4,2×10³ Ω·cm

Hővezetőképesség: 1,85 W/(m·K) (450%-os növekedés)

Üvegesedési hőmérséklet (Tg): 28 fokkal növelve

10. Csomagolási és tárolási előírások

Tiszta csomagolási rendszer:

Elsődleges csomagolás:Több-rétegű kompozit alumínium zacskó (külső PET / középső Al fólia / belső PE)

Másodlagos tároló:Rozsdamentes acél vákuum-zárt tartály (10⁻⁶ Pa vákuum érhető el)

Harmadlagos védelem:An-statikus, ütésálló-szállítási tok (MIL-STD-810G-kompatibilis)

Különleges csomagolási konfigurációk:

Inertgáz elleni védelem:Argon{0}}töltött, O₂ tartalmú<1 ppm, H₂O content <0.1 ppm

Fény{0}}árnyékoló kialakítás:Borostyánszínű-csomagolóanyag, UV-áteresztő képesség<0.1%

Páratartalom jelzés:Beépített{0}}elektronikus páratartalom-érzékelő adatnaplózással

Műszaki adatok és címkézés:

Szabványos méretek:1g, 5g, 10g (K+F fokozat); 50g, 100g, 500g (gyártási fokozat)

Információs címkézés:QR-kódos nyomonkövetési rendszer, beleértve a tételszámot, tisztasági tanúsítványt, tárolási feltételeket

Különleges jelölések:Radioaktivitás-szűrő jel (biztosítja a véletlen szennyeződést)

Tárolás és szállítás:

Hosszú távú -tárolás:-20 fokos vákuum alatt, 5 év eltarthatóság

Használati javaslat:Felbontás után a kesztyűtartóban kell kezelni (H2O/O2<0.1 ppm)

Szállítási feltételek:Hideg-láncos szállítás (2-8 fok) valós idejű hőmérséklet-figyeléssel

11. A vállalat műszaki képességei

K+F platform:

Ultra{0}}tiszta laboratórium:100. osztályú tisztatér, 2000 m² terület

Analitikai tesztelési központ:Aberráció{0}}korrigált TEM, μ-XRF, TOF-SIMS

Pilot{0}}léptékű platform:Teljesen automatizált folyamatos tisztítósor

Szabadalmi és technológiai portfólió:

Alapszabadalmak: 32 (ebből 18 PCT szabadalom)

Szabadalmaztatott know-how: 15 speciális tisztítókészítmény-készlet különböző alkalmazásokhoz

Gyártási képesség:

Egyedi felszerelés:Speciális tisztítóreaktorokat fejlesztettek{0}}a berendezésgyártókkal együtt

Automatizálási szint: Fully automated process control, product consistency >98%

Minőségbiztosítási rendszer:

Minőségi nyomon követhetőség:Teljes digitális nyomon követhetőség a nyersanyagoktól a késztermékig

Nemzetközi tanúsítványok:ISO 9001:2015, ISO 14001, ISO 45001

Műszaki szolgáltatási képesség:

Alkalmazásfejlesztő csapat:60% Ph.D. birtokosok, átlagosan 10 éves iparági tapasztalattal

Ügyfélszolgálat:Teljes körű szolgáltatást nyújt: tisztaságellenőrzés, alkalmazás tesztelés, folyamatoptimalizálás

Közös K+F:Alkalmazáslaboratóriumok létrehozása az ügyfelekkel együtt-a testreszabott megoldásfejlesztés érdekében

Népszerű tags: ultra-nagy tisztaságú szén nanocsövek, Kína ultra-nagy tisztaságú szén nanocsövek gyártók, beszállítók, gyár, Szén nanocsövek, nanoanyagok szén nanocsövek, Egyfalú nanocsövek, egyfalú szén nanocsövek, Egyfalú CNT -k, SWCNT